- charged particle optics
- Техника: оптика заряженных частиц
Универсальный англо-русский словарь. Академик.ру. 2011.
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particle accelerator — accelerator (def. 7). [1945 50] * * * Device that accelerates a beam of fast moving, electrically charged atoms (ions) or subatomic particles. Accelerators are used to study the structure of atomic nuclei (see atom) and the nature of subatomic… … Universalium
Particle accelerator — Atom smasher redirects here. For other uses, see Atom smasher (disambiguation). A 1960s single stage 2 MeV linear Van de Graaff accelerator, here opened for maintenance A particle accelerator[1] is a device that uses electromagnetic fields to… … Wikipedia
Electron optics — deals with the focusing and deflection of electrons using magnetic and/or electrostatic fields. See also * Charged particle beam * Electron beam technology * Electron microscope * Ernst Ruska References * [http://www.ml.afrl.af.mil/facilities/mll … Wikipedia
Mass-to-charge ratio — Charge to Mass ratio SI quantity dimension: M/(I⋅T) SI unit: kg/C other units: Th The mass to charge ratio ratio (m/Q) is a physical quantity that is widely used in the electrodynamics of c … Wikipedia
Field electron emission — It is requested that a diagram or diagrams be included in this article to improve its quality. For more information, refer to discussion on this page and/or the listing at Wikipedia:Requested images. Field emission (FE) (also known as field… … Wikipedia
Microscope électronique à balayage — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Microscopie electronique a balayage — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
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Microscopie électronique à balayage — Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM, Microscope (homonymie) et Microscopie. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F La microscopie éle … Wikipédia en Français
Scanning Electron Microscopy — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Optique des particules chargees — Optique des particules chargées L optique des particules chargées est l ensemble des techniques destinées à dévier un faisceau électronique ou ionique. Le terme « optique » renvoie à l analogie entre un rayon électronique et un rayon… … Wikipédia en Français